The European Physical Journal Applied Physics

Detection and characterization of stacking faults by light beam induced current mapping and scanning infrared microscopy in silicon p. 123

Relaxation phenomenon in composite materials p. 127

De la nécessité d'une fine couche de nickel pour obtenir des couches minces de MoSe₂ photoconductrices p. 135

Couches minces supraconductrices à haute température critique pour l'électronique p. 141

Structural modifications induced by electronic energy loss in Ni₃B irradiated with GeV heavy ions p. 149

Characterization and realization of a 120 kV, 200 ns transmission line pulse generator p. 159

Printed circuit board (PCB) model using the thin-wire method to compute conducted EMI in power electronic systems p. 169

Diffraction peak shift in MgO small crystallites p. 183

Réponse d'un échantillon métallique à structure fractale à une excitation électrique à fréquence variable p. 187

Vers une méthode de réglage expérimentale des commandes PID floues : application aux systèmes électromécaniques p. 195

Experimental study of the transmission of breakdown plasma generated during laser shock processing p. 215

The investigation of DC electrical discharges by the laser-gas interaction p. 219